電子密度分析天平TEP-30

簡要描述：電子密度分析天平TEP-30,系密度稱量兩用電子分析天平，它采用精密電子分析天平利用阿基米德定律，可對任何形狀不規(guī)則的固體物質(zhì)同時進(jìn)行重量和比重的分析測量，適用于工礦企業(yè)，科研機(jī)構(gòu)，大專院校實(shí)驗(yàn)室作質(zhì)量比重的測量與分析。

產(chǎn)品型號： HG15-TEP-30

所屬分類：·天平系列

更新時間：2024-05-24

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詳細(xì)說明：

電子密度分析天平 密度稱量兩用電子天平上皿式密度分析天平

型號：HG15-TEP-30

產(chǎn)品介紹：電子密度分析天平TEP-30

系密度稱量兩用電子分析天平，它采用精密電子分析天平利用阿基米德定律，可對任何形狀不規(guī)則的固體物質(zhì)同時進(jìn)行重量和比重的分析測量，適用于工礦企業(yè)，科研機(jī)構(gòu)，大專院校實(shí)驗(yàn)室作質(zhì)量比重的測量與分析。

技術(shù)參數(shù)：

電子密度分析天平TEP-30

產(chǎn)品型號	zui大稱量(g)	分度值(g)	稱盤尺寸(mm)	備注
TEP-500	500g	10mg	Φ40/Φ80mm	上皿式、密度稱量兩用
TEP-300	300g	1mg	Φ40/Φ80mm	上皿式、密度稱量兩用
TEP-200	200g	1mg	Φ40/Φ80mm	上皿式、密度稱量兩用
TEP-30	30g/300g	1mg/10mg	Φ40/Φ80mm	上皿式、密度稱量兩用
AEL-200A	200g	0.1mg	Φ40/Φ90mm	下皿式、密度稱量兩用

北京北信未來電子儀器有限公司

---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------電子密度分析天平TEP-30

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